光傳輸系統(tǒng)中，當(dāng)入射光傳輸至光器件時(shí)，入射光總有部分光被光器件反射回來(lái)。其中后向反射光功率與入射光功率的比值就是反射損耗。后向反射光會(huì)對(duì)光源的工作帶來(lái)不利的影響，因此光器件的反射損耗測(cè)試就成為必須。

常用的光回波損耗測(cè)試方法包括OCWR光連續(xù)波反射測(cè)試和OTDR光時(shí)域反射測(cè)試。這兩種方法都是IEC61300-3-6建議的方法。前者適合測(cè)試小于等于-55dB的反射損耗，但是使用中需要纏繞等辦法消除光纖等的反射。后者則可以免纏繞，支持更高測(cè)試范圍。

如圖所示，OCWR法不能區(qū)別光纖中的瑞利散射和光器件本身的菲涅爾反射，在多數(shù)情況下使用不超過(guò)1.5米的測(cè)試光纖，一般極限測(cè)量值是-70dB。而OTDR法則相比優(yōu)勢(shì)明顯，不僅可以區(qū)別瑞利散射和菲涅爾反射，而且可以讓用戶自己選擇測(cè)量某個(gè)接頭的回波損耗，可以消除測(cè)試引入纖的影響，測(cè)量范圍最大可以到80dB。

不同于OTDR，使用OCWR方法測(cè)試，須對(duì)光纖尾端進(jìn)行去反射處理，包括將光纖尾端加工成APC端面，或者采用折射率匹配液，還有就是可以對(duì)光纖進(jìn)行纏繞（纏繞位置應(yīng)該在標(biāo)準(zhǔn)跳線SJ2靠近標(biāo)準(zhǔn)連接器10cm處），直到回波損耗穩(wěn)定不變?yōu)橹梗ú贿m合多模光纖，多模光纖需要增加消除高階模的裝置）。